國內(nèi)的主控廠商聯(lián)蕓科技日前宣布研發(fā)成功4K LDPC算法，這是國內(nèi)SSD主控芯片廠商第一次實(shí)現(xiàn)該技術(shù)的連續(xù)突破，將極大地提高QLC閃存的可靠性及使用壽命。

提到QLC閃存，很多SSD硬盤用戶覺得很雞肋，對其可靠性嚴(yán)重不放心。SSD硬盤的可靠性是個(gè)系統(tǒng)問題，除了閃存之外還跟主控有關(guān)，或者說主控的作用更大一些，尤其是糾錯算法影響很大。

目前閃存的糾錯算法已經(jīng)從BCH全面轉(zhuǎn)向LDPC（Low Density Parity Check），它比BCH算法更先進(jìn)但也更復(fù)雜，帶來了主控芯片功耗的急劇上升，給SSD系統(tǒng)穩(wěn)定性帶來了極大隱患。

此外，LDPC復(fù)雜的解碼過程，特別是軟解碼，會大量占用閃存數(shù)據(jù)帶寬，從而降低SSD用戶實(shí)際使用性能，還會嚴(yán)重惡化數(shù)據(jù)讀寫延時(shí)，帶來極差的用戶體驗(yàn)。

在糾錯技術(shù)上，聯(lián)蕓科技有自己的Agile ECC技術(shù)，其中Agile ECC 2基于2K LDPC，現(xiàn)在則是突破了4K LDPC，成功實(shí)現(xiàn)了基于4K LDPC糾錯的第三代Agile ECC 3閃存信號處理技術(shù)的開發(fā)和驗(yàn)證。

聯(lián)蕓科技表示，相比2K LDPC糾錯技術(shù)，4K LDPC糾錯性能無論是硬解碼還是軟解碼都有大幅提升。在相同原始誤碼率（RBER）情況下，相對于2K LDPC，4K LDPC的糾錯失敗概率（UFER）能降低至少兩個(gè)數(shù)量級。

或者說在相同糾錯失敗概率（UFER）要求下，4K LDPC能容忍更高的閃存顆粒原始誤碼率（RBER），從而可以大大延長閃存的使用壽命。

聯(lián)蕓的Agile ECC3技術(shù)引入4K LDPC，無論是硬解碼能力還是軟解碼能力相比2K LDPC都有極大提升。LDPC軟解碼的能力提升保障了最惡化情況下的閃存數(shù)據(jù)可靠性，極大的延長了SSD的使用壽命；而LDPC硬解碼能力提升則可以大大減少進(jìn)入LDPC軟解碼的概率，從而避免了復(fù)雜的LDPC的軟解碼過程，大大提升了用戶實(shí)際使用體驗(yàn)。

此外，LDPC碼長從2K到4K會增加電路實(shí)現(xiàn)復(fù)雜度，理論上會帶來芯片功耗的增加和成本上升，不過聯(lián)蕓科技表示其4K LDPC糾錯技術(shù)采用獨(dú)特的LDPC編解碼器架構(gòu)和先進(jìn)的動態(tài)功耗管理技術(shù)，大大優(yōu)化了系統(tǒng)功耗和成本。

聯(lián)蕓基于4K LDPC的第三代Agile ECC技術(shù)過一系列技術(shù)創(chuàng)新，不但大大提升了主控芯片的閃存糾錯能力，還優(yōu)化芯片功耗，給用戶帶來極佳的性能和超低功耗體驗(yàn)。