6月1日消息 荷蘭ASML公司近日在官網(wǎng)宣布,完成了用于5nm及更先進工藝的第一代HMI多光束檢測機HMI eScan1000的測試。

據(jù)介紹,HMI eScan1000能夠同時產(chǎn)生、控制九道電子束,與單個電子束檢查工具相比,將使吞吐量提高達600%。
據(jù)了解,新的MBI系統(tǒng)包括一個電子光學系統(tǒng),能夠創(chuàng)建和控制多個初級電子波束,然后收集和處理產(chǎn)生的次級電子波束,將波束之間的串擾限制在2%以內(nèi),并提供一致的成像質(zhì)量。它還具有提高系統(tǒng)總體吞吐量的高速階段和實時處理來自多個波束的數(shù)據(jù)流的高速計算體系結(jié)構(gòu)。
目前,首臺多波束檢測系統(tǒng)已于本周交付客戶進行鑒定。ASML計劃增加光束數(shù)量和光束分辨率,以滿足未來幾代芯片制造商的產(chǎn)品路線圖要求。
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