控制圖的主要用途是分析和判斷過程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)；可以通過觀察控制圖上產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分布狀況，分析和判斷生產(chǎn)過程是否發(fā)生了異常，一旦發(fā)現(xiàn)異常就要及時(shí)采取必要的措施加以消除，使生產(chǎn)過程恢復(fù)穩(wěn)定狀態(tài)；也可以應(yīng)用控制圖來使生產(chǎn)過程達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制的狀態(tài)。

本教程操作環(huán)境：windows7系統(tǒng)、Dell G3電腦。

控制圖（Control Chart）又叫管制圖，是對(duì)過程質(zhì)量特性進(jìn)行測(cè)定、記錄、評(píng)估，從而監(jiān)察過程是否處于控制狀態(tài)的一種用統(tǒng)計(jì)方法設(shè)計(jì)的圖。

控制圖是用于分析和判斷過程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)所使用的帶有控制界限的圖，是具有區(qū)分正常波動(dòng)和異常波動(dòng)的功能圖表，是現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量管理中重要的統(tǒng)計(jì)工具。

控制圖解釋

• 1. 實(shí)時(shí)圖表化反饋過程的工具。

• 2. 設(shè)計(jì)的目的是告訴操作者什么時(shí)候做什么或不做什么。

• 3. 按時(shí)間序列展示過程的個(gè)性/表現(xiàn)。

• 4. 設(shè)計(jì)用來區(qū)分信號(hào)與噪音。

• 5. 偵測(cè)均值及/或標(biāo)準(zhǔn)差的變化。

• 6. 用于決定過程是穩(wěn)定的（可預(yù)測(cè)的）或 失控的（不可預(yù)測(cè)的）。

控制圖誤區(qū)

• 1. 不是能力分析的替代工具。

• 2. 在來料檢驗(yàn)的過程中很難用到（沒有時(shí)間序列）。

• 3. 控制圖不是高效的比較分析工具。

• 4. 不應(yīng)與運(yùn)行圖或預(yù)控制圖混淆。

控制圖應(yīng)用“界限”區(qū)分過程是否有顯著變化或存在異常事件。由于控制限的設(shè)定要以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，所以在收集一定量有代表性的數(shù)據(jù)之前是無法確定控制限的。如果錯(cuò)誤使用控制限，不但會(huì)對(duì)使用者造成困擾，而且還會(huì)對(duì)那些通過圖表監(jiān)控以實(shí)現(xiàn)過程改進(jìn)的措施起反作用。

控制圖上有三條平行于橫軸的直線：中心線（CL，Central Line）、上控制限（UCL，Upper Control Limit）和下控制限（LCL，Lower Control Limit），并有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列。

UCL、CL、LCL統(tǒng)稱為控制限（Control Limit），通?？刂平缦拊O(shè)定在±3標(biāo)準(zhǔn)差的位置。中心線是所控制的統(tǒng)計(jì)量的平均值，上下控制界限與中心線相距數(shù)倍標(biāo)準(zhǔn)差。若控制圖中的描點(diǎn)落在UCL與LCL之外或描點(diǎn)在UCL和LCL之間的排列不隨機(jī)，則表明過程異常。

運(yùn)用控制圖的目的

通過觀察控制圖上產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分布狀況，分析和判斷生產(chǎn)過程是否發(fā)生了異常，一旦發(fā)現(xiàn)異常就要及時(shí)采取必要的措施加以消除，使生產(chǎn)過程恢復(fù)穩(wěn)定狀態(tài)。也可以應(yīng)用控制圖來使生產(chǎn)過程達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制的狀態(tài)。產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分布是一種統(tǒng)計(jì)分布。

控制圖的分類

根據(jù)控制圖使用目的的不同，控制圖可分為：分析用控制圖和控制用控制圖。

根據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的類型不同，控制圖可分為：計(jì)量控制圖和計(jì)數(shù)控制圖（包括計(jì)件控制圖和計(jì)點(diǎn)控制圖）。它們分別適用于不同的生產(chǎn)過程。每類又可細(xì)分為具體的控制圖，最初主要包含七種基本圖表。

計(jì)量型控制圖包括：

• * IX-MR（單值移動(dòng)極差圖）

• * Xbar-R（均值極差圖）

• * Xbar-s（均值標(biāo)準(zhǔn)差圖）

計(jì)數(shù)型控制圖包括：

• * P（用于可變樣本量的不合格品率）

• * Np（用于固定樣本量的不合格品數(shù)）

• * u（用于可變樣本量的單位缺陷數(shù)）

• * c（用于固定樣本量的缺陷數(shù)）